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    NI PXI半導體測試系統挑戰ATE主流地位(半導體行業協會9.9)

    time:2016-7-20 瀏覽次數:14573次    【關閉】

      pxi模組化架構的半導體測試系統問世。美商國家儀器(ni)發布首款采用pxi模組化架構開發的自動化半導體測試系統,標榜兼具更低測試成本、更高功能擴充性及更快部署的優勢,為傳統半導體自動化測試設備(ate)制造商帶來不可小覷的威脅。
      美商國家儀器精密直流資深產品經理joeytun表示,pxi架構的半導體測試系統具備多通道特性,不僅較傳統ate測試速度更快,且功能擴充彈性高,可望獲得更多類比和射頻元件廠商的青睞。
      美商國家儀器精密直流資深產品經理joeytun表示,隨著產品規格不斷提升,類比及射頻(rf)元件開發商亦須持續汰換測試系統,以滿足新產品的測試需求;然而,傳統半導體自動化測試設備(ate)的替換成本高昂,使得晶片商須負擔的測試成本日益沉重。
      為滿足類比與射頻元件業者對更低測試成本的需求,美商國家儀器正挾pxi模組化架構的半導體測試系統,積極擴大在半導體后段制程設備的市場滲透率。
    tun指出,開放式pxi模組化架構開發的半導體測試系統,可協助類比及射頻元件制造商縮減測試成本,同時彈性增加新功能。
      此外,美商國家儀器也于pxi半導體測試系統整合teststand測試管理軟體和labview系統設計軟體,為半導體廠商提供豐富的功能組合,如可客制化的操作介面、標準測試資料格式報表制作等,助力類比及射頻元件開發商快速于海外產線建置完整的半導體自動化測試方案。
      據了解,目前idt、亞德諾(adi)等半導體業者已相繼于后段半導體制程采用美商國家儀器的半導體測試系統,藉此大幅減低整體生產測試成本。

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